MS4642A |
VNA, 10* MHz to 20 GHz, 2端口, K(m)测试端口 |
MS4644A |
VNA, 10* MHz to 40 GHz, 2端口, K(m)测试端口 |
MS4647A |
VNA, 10* MHz to 70 GHz, 2端口, V(m)测试端口 |
* 选件 070 |
70 kHz 低端频率覆盖,提供前所未有的精度和稳定性 |
选件 06x |
有源器件测量选件(2衰减器或4衰减器) |
选件 05x |
直接访问环路 |
选件 002 |
先进时域测量选件 |
选件 007 |
接收机频率偏移,用于混频器等变频器件测量以及谐波和交调测量 |
业界最宽的单台仪表 70 kHz ~ 70 GHz 连续扫描,并且可以升级到 70 kHz ~ 110 GHz宽带测量系统 |
- 获取最精确、最全面的宽带器件特性。
- 无需将多台不同频段矢网的测试数据进行拼合,大大提高效率并且避免了数据拼合带来的一致性误差。
- 一台VectorStar就能完成全部工作,减少了同时配置微波VNA和射频VNA所带来的重复投资和成本上升。
- 70 kHz的低端频率尽量减少DC外推给器件建模带来的误差。
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小于 20 μsec/点的业界最快测量速度(锁相步进扫描、稳幅、屏幕打开) |
- 业界最高的测试速度帮助用户降低生产测试成本。
- 轻松快速的发现最隐蔽的器件超差点,杜绝不良品出厂。
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卓越的动态范围 – 最高140 dB |
- 精确测量高损耗器件。
- 发现滤波器通带外的所有潜在馈通信号。
- 轻松快速的进行高灵敏度的天线系统测量。
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高端口功率 – 最高+13 dBm |
- 无需外接放大器,降低测试系统成本和复杂度。
- 精确彻底地测试非线性器件。
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最佳测试端口性能 – 方向性、源匹配和负载匹配可达50 dB |
- 降低测量不确定度。
- 降低测量保护边带的要求。
- 提高生产率。
- 在R&D实验室中达到最佳精度指标。
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最方便的自动校准系统,并达致最佳精度 |
- 使用高精度自动校准件,只需一个按键就能完成所有VNA校准工作。
- 自动校准精度超越带滑动负载的手动SOLT校准方式(接近LRL校准精度)。
- 重新校准省时省力,大大提高效率,并且减少人为出错概率。
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最大10万个测试点提供极致的分辨率 |
- 对局部频段放大观察而无需重新校准。
- 只需一次校准即可任意选择不同的频率来进行测试,保证足够的分辨率。
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最佳器件建模能力 |
- 加速设计周期。
- 低至70 kHz的测量都可以保证极高的精度和可重复性,器件建模精度大大提高。
- 无需繁琐且容易出错的多台VNA测试数据拼合工作。
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最好的时域测试能力 |
- 10个测试点和业界最宽的频率范围保证了最精确、分辨率最高的低通时域测量。
- 测试距离最长且无鬼影。
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